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X射线衍射分析与氧化锌的纳米材料
发布时间:2015-01-05 22:12 发布人:氧化锌 点击:
 
      从而确定材料的物相、晶系等,还可利用衍射和高分辨电子显微技术,观察晶体中存在的结构缺陷,确定缺陷的种类,估算缺陷密度。如果TEM带有扫描附件和能量散射X射线谱仪,那么还可以对样品中的元素分布进行分析,确定样品中元素的种类和组分。
     TEM的样品多孔载网很小,直径在3 mm左右,所以限定了样品的大小。同样,TEM对样品的厚度也有要求。在常规加速电压为100 kV时,电子的穿透能力不超过200 nm,因此样品一般都极薄(几十纳米),以便电子束透过样品。如果样品比多孔载网的孔小很多,载网上需要再覆盖一层散射能力很弱的支持膜,目前常用的是碳膜。在高倍TEM的研究工作中,目前发展了一种微栅作为样品载网。
         X射线衍射分析(XRD)是鉴别物质晶体结构,进行物相分析的常规手段,可以用来获得样品的晶相结构,如点阵常数、晶粒度、结晶度、结构、内应力和位错等。X射线是一种电磁波,当它射入晶体内部时,晶体中产生周期变化的电磁场。原子中的电子和原子核受迫振动,原子核的振动因其质量很大而忽略不计。振动着的电子产生次生X射线,其波长、周期与入射光相同。基于晶体结构的周期性,晶体中各个电子的散射波可相互干涉相互叠加,称之为衍射。由于晶体原子在空间呈周期性排列,因而这些散射只能在某些方向上叠加而产生干涉现象,造成衍射峰。利用XRD可以获得样品的晶体结构。

    用X射线衍射表征氧化锌的结构特性时,常从以下几方面进行分析。
氧化锌